5月27日至29日，2026第十届集微大会在上海张江科学会堂隆重举行。作为集微大会核心板块之一的集微半导体展，设立两大主题分区，汇聚产业链顶尖企业，全面呈现从材料、设备、设计到终端的完整技术图谱，为参展商与专业观众提供了高效的对接平台。
在本届展会上，深圳市数合泰科技有限公司（以下简称“数合泰”）作为专注于存储测试设备与解决方案提供商重磅亮相，带来从芯片级到成品级的全栈式测试能力。
数合泰成立于2016年，深耕存储测试领域十余年，面向NAND Flash、eMMC、SSD等全品类存储产品，提供覆盖功能测试、性能验证、可靠性筛选、寿命预测及量产测试的全栈式解决方案，全面满足消费级、工规级、企业级、车规级存储产品的全场景测试需求，服务覆盖封测厂、模组厂、存储原厂、科研院所等全产业链客户。
本次展会，数合泰重点展示了其自主研发的闪存芯片智能测试系统。该系统专为闪存芯片全生命周期测试打造，支持最高3.2GT/s接口速率，单台可实现多达512颗芯片并行测试，并具备DUT扩展能力，兼顾高并发、高精度与低成本优势。系统支持7×24小时连续运转，可为NAND Flash提供全维度参数测试与深度数据分析，灵活适配FT测试产线、研发验证、失效分析、现场抽检等多类场景，广泛应用于大型检测中心、SSD制造商及国家级科研单位等高通量测试需求。
在芯片级测试方面，NAND Flash闪存芯片智能测试系统支持分Bin筛选、Ink Die筛选、闪存质量等级划分及寿命预测等，覆盖消费级/工业级/企业级芯片的宽温筛选等高阶应用，为芯片可靠性验证与品质分级提供坚实支撑。
在成品级测试方面，SSD智能测试系统兼容Windows/Linux双系统，支持性能、老化、掉电、电压拉偏等全维度FT测试，搭配自研MES系统实现全流程质量管控，有力保障存储产品量产稳定性。
此外，数合泰还可根据客户需求提供测试方案定制、设备开发与测试服务，灵活解决不同场景下的存储测试痛点。
展会现场，数合泰展台前吸引了众多来自存储封测厂、模组厂、SSD制造商及科研院所的专业观众。不少工程师对单台512颗并行测试能力、最高3.2GT/s接口速率以及7×24小时连续运转的稳定性表现出浓厚兴趣，围绕芯片级寿命预测算法、成品级老化测试方案及MES系统对接等问题与数合泰技术团队深入交流。
此次亮相2026集微大会，数合泰科技向业界全方位展示了其在存储测试设备领域的技术实力、全栈式解决方案及从芯片级到成品级的完整测试能力，与产业链伙伴一道，共同筑牢国产存储产业高质量发展的测试根基。
