随着 AI 大算力芯片、车规 SoC和先进封装的Chiplet 大规模落地，芯片设计复杂度呈指数级提升，测试已不再是芯片流片后的“质量检验员”，而是贯穿设计、制造、封测全流程的核心赋能者。广立微正式发布QuanTest SiliconVision桌面级硅片调试诊断工具平台，搭载NPS（Next‑Gen Digital Pattern Studio）软件，配合硬件测试平台及DFT EDA工具链重塑芯片后流片测试调试工作流。
行业痛点 ATE机台资源瓶颈与调试效率困境
传统模式下，DFT验证、测试向量迭代及早期失效诊断等工作高度依赖大型ATE（自动测试设备）机台——这些设备造价高昂、资源紧张，且调试过程繁琐低效。DFT团队往往需要经历漫长而繁琐的迭代过程，不断微调参数、生成更优的测试向量集。每一次流片动辄数千万美元、耗时数月，首次流片并不保证芯片能够正常工作。行业迫切需要轻量化、全链路打通的硅后调试解决方案，缩短流片到量产的周期。
QuanTest SiliconVision 把90%的调试诊断工作搬回工程师工位
QuanTest SiliconVision内的Next‑Gen Digital Pattern Studio（NPS）软件，是广立微面向芯片后流片阶段打造的桌面级硅片调试诊断一体化工具。
NPS搭配硬件测试平台及DFT EDA工具链组成验证平台，实现芯片级别交互与测试向量的可视化调试与诊断——可将90%的DFT验证、测试向量迭代及早期失效诊断工作从大型ATE机台迁移至工程师工位，重塑芯片测试工作流，显著提升测试、诊断效率。
核心能力一览
可视化 Pattern 编辑
内置转译引擎，可将Pattern 解析为微码指令；以表格图形和颜色编码替代纯文本，向量调试直观高效。测试向量的具体步骤和写入内容清晰可见，便于工程师直接修改和调试。
桌面交互调试
轻量化硬件无需占用 ATE机台资源，可通过笔记本部署；在线/离线皆可与 QuanTest SiliconVision 及DFT EDA数据库互通，实现随时随地调试或者更新测试向量。
波形观测与 Shmoo 扫描
波形重叠比对，差异一目了然；电压‑频率 Shmoo 热力图支持一键切入工况，精准分析性能边界。
精细化硬件控制
支持断点、单步、暂停、循环等交互指令，实时管控测试执行；软件端可视化调压调频，配置灵活可控。
精准故障诊断
自动采集失效数据，上传至QuanTest SiliconVision 及DFT EDA 诊断端进行分析，并回传诊断结果；精准定位缺陷单元，加速根因排查。
支持批量化测试
提供 Tcl/API 接口，脚本化编排测试流程；批量执行 Pattern 并自动收集结果，满足回归与大规模验证自动化。全链路工具闭环从向量编辑到诊断分析以NPS为核心的测试平台构建了覆盖从向量编辑、硬件测试到诊断分析的全链路解决方案。向下驱动硬件执行测试，向上对接DFT EDA设计工具与诊断系统，并可联动YAD版图工具，兼容各类设计和物理文件，打通设计-测试-诊断全流程。
四大应用场景 全面覆盖芯片调试需求
芯片流片后Bring-up初期调试
流片初期无需占用ATE资源，完成JTAG、IJTAG、MBIST、ATPG及IP测试等基础向量验证，大幅缩短芯片点亮调试周期。
DFT测试向量迭代优化
可视化编辑、修改DFT测试Pattern，实时下发硬件复测，快速迭代修正时序、激励参数。
硅片失效根因诊断分析
测试报错后自动抓取失效周期，定位芯片内部缺陷，支撑硬件失效问题的定位与复盘。
芯片极限参数Shmoo表征
扫描电压、时钟频率组合生成热力图，快速获取芯片稳定工作区间，用于性能极限分析与可靠性评估。
后摩尔时代，芯片竞争就是时间的竞争。QuanTest SiliconVision 将桌面化、可视化、自动化带入硅后调试场景，为 AI 芯片、车规芯片、高端 SoC 带来全新调试路径，助力更多芯片项目实现良率快速爬坡并加速上市。
