蕊源半导体“一种电源芯片可靠性测试系统和方法”专利公布

集微网消息，天眼查消息显示，成都蕊源半导体科技股份有限公司“一种电源芯片可靠性测试系统和方法”专利公布，申请公布日为5月30日，申请公布号为CN116184159A。

图源：天眼查

专利摘要称，本发明公开了一种电源芯片可靠性测试系统和方法。测试系统中，测试底座分别通过输入电压采样模块、输出电压采样模块、输入电流采样模块+程控电源、输出电流采样模块+电子负载连接主控模块，测试底座和主控模块还分别连接示波器。在分别使程控电源和电子负载具备一个初始电压和初始电流后，主控模块依据输入电压采样模块的采样值调整程控电源的电压，根据输出电流采样模块的采样值调整电子负载的电流，并通过比对程控电源的电压和输入电压采样模块的采样值，以及对比电子负载的电压值和输出电压采样模块的采样值进行异常监控。主控模块分别向程控电源、示波器和电子负载下发指令以开始测试，并分别获取所连接模块/器件反馈的值生成测试报告。

天眼查显示，成都蕊源半导体科技股份有限公司成立于2016年7月，法定代表人杨楷，注册资本4257.80万元，经营范围包括半导体技术开发、电子元器件、集成电路设计。（校对/姜羽桐）